1. An introduction to logic circuit testing /

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing

2. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)

موضوع : Logic circuits -- Design,Logic circuits -- Testing,Uncertainty (Information theory),مدارهای منطقی -- طراحی,مدارهای منطقی -- آزمایش,عدم قطعیت (نظریه اطلاعات)

رده :
E-Book
,

3. Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Logic circuits-- Design,Logic circuits-- Testing,Uncertainty (Information theory)

رده :
TK7868
.
L6
K75
2013

4. Design of testable logic circuits

پدیدآورنده :

موضوع : Logic circuits,Logic circuits--Testing

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

5. Design of testable logic circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Logic circuits,Logic circuits - Testing

رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984

6. Design of testable logic circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: (طهران)

موضوع : LOGIC CIRCUITS , LOGIC CIRCUITS-TESTING

رده :
TK
7868
.
L6
B45
1984

7. Edsign of testable logic circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: (خراسان الجنوبیة)

موضوع : ، Logic circuits,، logic circuits - testing

رده :
TK
7686
.
L6
B45
1984

8. Neural models and algorithms for digital testing

پدیدآورنده :

موضوع : ، Logic circuits- Testing,، Automatic checkout equipment,، Digital integrated circuits- Testing- Data processing

۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.

9. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)

موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing

رده :
TK
7874
.
K866
1997

10. Selected reprints on logic design for testability

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع : Logic circuits - Testing - Addresses, essays, lectures

رده :
TK
7888
.
4
.
S45
1984

11. The board designer's guide to testable logic circuits

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع : Testing ، Logic circuits

رده :
TK7868
.
L6
M376
1992